ТЕЛЬМАН АЛИЕВ

Действительный член НАНА, доктор технических наук, профессор

Дата рождения: 2 мая 1935 года
Место рождения: Азербайджанская Республика, Геранбойский район 
Ученая степень: Доктор технических наук
Ученое звание: Профессор, академик
Общее количество научных публикаций: 587
Количество научных публикаций за рубежом: 383
Количество патентов: 109
Подготовка кадров:  37 докт. фил.  и 12 док. наук
Место работы:  Институт систем управления НАНА
Должность: Заведующий отделом №1 «Идентификационные методы и системы управления»
Служебный тел.: (+994 12) 5394384
Факс: (+994 12) 5392826
Э-почта: director@cyber.az

Digital Noise Monitoring of Defect Origin

Название книги:  Цифровой помехомониторинг зарождения дефекта (Digital Noise Monitoring of Defect Origin)
Язык книги: Английский язык
Автор: Тельман Алиев
Издание:  
Число страниц:  223
Дата публикации:  2007

 

О книге:
This work may not be translated or copied in whole or in part without the written permission of the publisher (Springer Science+Business Media, LLC, 233 Spring Street, New York, NY 10013, USA), except for brief excerpts in connection with reviews or scholarly analysis. Use in connection with any form of information storage and retrieval, electronic adaptation, computer software, or by similar or dissimilar methodology now know or hereafter developed is forbidden. The use in this publication of trade names, trademarks, service marks and similar terms, even if they are not identified as such, is not to be taken as an expression of opinion as to whether or not they are subject to proprietary rights.

Купить книгу >>>